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AMMS-100 XRF環境金属分析装置

このシステムは、30元素までの金属分析用の蛍光X線と、粒子状物質モニタリング用のベータ線減衰モデルを統合している。しかし、このモジュールは、検出器上を順次移動する同じサンプルを使用するものであり、産業界のエミッション・トレーシングに大きな効果を発揮するだろう。.

ダウンロードとリソース

測定範囲	0~100μg/m³
測定コンポーネント（オプション）	Al、Si、P、S、Cl、K、Ca、Sc、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、As、Se、Br、Rb、Sr、Zr、Mo、Pd、Ag、Cd、In、Sn、Sb、Te、Cs、Ba、Au、Hg、Tl、Pb、その他38種類の元素。.
下限検出レベル（Alを除く）	(0.01~10)ng/m³ (1時間サンプリング)
Alの検出レベル低下	<40ng/m³
その他の要素検出レベル下限	P<5ng/m³、S<4ng/m³、Cr<1ng/m³、Si<8ng/m³、Pb<1ng/m³、As<1ng/m³、Cd<3ng/m³（1時間サンプリング）
精密	<1%（鉛標準フィルム）
直線性	鉛、R>0.999
内部標準物質の再現性	<0.2%
標準フィルム精度	<±2%（鉛標準フィルム）

粒子状物質

測定範囲	0~1, 2, 5, 10mg/m³
検出限界	5μg/m³

アナライザー・ランニング・インジケーター

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