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LGA-4500バイパス式可変ダイオードレーザー(TDL)アナライザ

FPIは、TDLAS(Tunable Diode Laser Absorption Spectroscopy:波長可変レーザー吸収分光法)の独自技術を活用し、高精度、高速応答、高信頼性、実質メンテナンスフリーを実現するLGAシステムを提供しています。.

FPI LGAシステムは、ほぼ全ての産業プロセスに適用可能であり、特に高温・高圧・粉塵・腐食性物質・汚染物質が混在する過酷な環境下での実績が豊富です。.

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製品概要

FPIは、TDLAS(Tunable Diode Laser Absorption Spectroscopy:波長可変レーザー吸収分光法)の独自技術を活用し、高精度、高速応答、高信頼性、実質メンテナンスフリーを実現するLGAシステムを提供しています。.

FPI LGAシステムは、ほぼ全ての産業プロセスに適用可能であり、特に高温・高圧・粉塵・腐食性物質・汚染物質が混在する過酷な環境下での実績が豊富です。.

原則

TDLAS技術は、レーザーエネルギーがガスによって選択的に吸収され、吸収スペクトルを形成するという原理を利用しています。半導体レーザーから特定の波長のレーザービームが放出され、ガスを通過するとき、レーザー強度の減衰は、測定されたガスに関連しています。強度の減衰を測定することにより濃度を求めることができます。.

LGA-4500バイパス式可変ダイオードレーザー(TDL)アナライザ 技術仕様

 

パラメータ 仕様
コンポーネント O₂, CO, CO₂, H₂O, H₂S, HF, HCl, HCN, NH₃, CH₄, C₂H₂, C₂H₄, CH₃I
精度 HF: 0.02ppm; HCl, NH₃, C₂H₂:0.1ppm; H₂O, HCN: 0.3ppm; CH₄:0.4ppm; C₂H₄, CH₃I: 0.6ppm; CO, CO₂:10ppm;H₂S:20ppm;O₂:100ppm。.
範囲 HF: (0~5)ppm; C₂H₂, NH₃: (0~10)ppm; HCN: (0~30)ppm; CH₃I: (0~40)ppm; HCl, H₂O: (0~50)ppm; C₂H, CH: (0~60)ppm; CO, CO₂: (0~1000)ppm; H₂S: (0~2000)ppm; O₂: (0~1)%Vol, customized
直線性 ≤±1%F.S.
スパン・ドリフト ≤±1%F.S./6か月
再現性 ≤±1%F.S.
応答時間 T₉₀≤20s (流量1 L/min以上)
予熱時間 15分以内
動作温度 -30~60℃
保存温度 -40~80℃
パージガス 計装空気、工業用N₂ (0.3~0.8)Mpa
サンプル圧力 0.5~3bar
サンプル温度 -30~250°C
封入率 IP65
防爆 防爆構造 d IIC T5
電源 AC100~240V
消費 ≤20W
アナログ入力 双方向 4~20mA
アナログ出力 2ウェイ4~20mA、絶縁、最大負荷750Ω
リレー出力 3ウェイリレー、24V/1A

 

多様な産業分野での応用

  • 廃棄物焼却における塩酸(HCl)、フッ化水素酸(HF)。.
  • 肥料プラントにおけるアンモニア(NH3)とフッ化水素(HF)の監視.
  • 製薬業界における塩酸(HCl)。.
  • 火力発電所におけるSCR、SNCRのNH3スリップ.

主な特徴 LGA-4500バイパス式可変ダイオードレーザー(TDL)アナライザ

  • スペクトル幅0.001nmまでの単色性により、高い精度と背景からの干渉を防ぎます。.
  • クロススタックアライメントでメンテナンスフリー。.
  • IECEx ex-proofは、危険区域でのシステムの採用に適しています。.
  • 自動ドリフト補正機能により、校正間隔を最長1年まで延長。.

なぜ LGA-4500バイパス式可変ダイオードレーザー(TDL)アナライザ 際立つ

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